片上系統(tǒng)測試設(shè)計與優(yōu)化

定　價：￥88.00

作　者：	（瑞典）埃里克·拉森著；孫仁杰譯
出版社：	科學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

購買這本書可以去

當當網(wǎng) (￥74.30)

ISBN：	9787030769183	出版時間：	2023-11-01	包裝：	平裝膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書旨在討論片上系統(tǒng)（SoC）測試的相關(guān)問題，包括建模以及片上系統(tǒng)測試解決方案的設(shè)計和優(yōu)化。需要測試的系統(tǒng)越來越復雜，測試數(shù)據(jù)量不斷增加，如何組織測試，即測試調(diào)度變得越來越重要。本書主要站在系統(tǒng)級的角度闡明模塊化SoC測試領(lǐng)域的諸多問題。《BR》本書由三部分組成，在概述經(jīng)典測試方法的基礎(chǔ)上，介紹測試大型、模塊化和異構(gòu)SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難，并詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。