納米材料導論（第2版）

第1章 概述
1.1 引言
1.1.1 什么是納米
1.1.2 什么是材料
1.1.3 納米材料的研究范圍
1.1.4 納米材料的研究目的
1.2 納米材料的相關概念
1.2.1 納米材料
1.2.2 納米技術
1.2.3 納米科學技術
1.3 納米材料的發(fā)展歷史
1.3.1 自然界的納米結構
1.3.2 納米科技概念的提出與發(fā)展
1.3.3 國際納米科技大事
1.3.4 國內(nèi)納米科技成果
1.3.5 國際納米科技發(fā)展新趨勢和新特點
1.4 納米材料的研究意義
1.4.1 納米技術的研究熱點
1.4.2 納米科技的應用
1.4.3 我國納米技術目前產(chǎn)業(yè)化狀況
1.4.4 國際納米科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢
1.4.5 發(fā)展納米技術的重要科學意義
第2章 納米材料的制備
2.1 納米材料的制備方法分類
2.2 零維量子點的制備方法
2.2.1 濕化學合成方法
2.2.2 外延生長
2.2.3 SK生長模式
2.2.4 液相法
2.2.5 固相法
2.3 納米粉末的制備方法
2.3.1 氣相法
2.3.2 液相法
2.3.3 固相法
2.4 一維納米材料的制備方法
2.4.1 一維硅、鍺納米材料
2.4.2 一維金屬納米材料
2.4.3 其他一維納米材料的制備方法
2.5 二維薄膜納米材料的制備方法
2.5.1 薄膜納米材料制備的化學方法
2.5.2 薄膜納米材料制備的物理方法
2.5.3 薄膜納米材料的其他制備方法
2.6 三維塊體納米材料的制備方法
2.6.1 納米陶瓷
2.6.2 納米晶金屬塊體材料
2.6.3 塊體金屬基納米復合材料
2.6.4 鈣鈦石型納米塊體復合氧化物
2.6.5 三維金屬氧化物納米材料
第3章 納米材料的分析與表征
3.1 電子顯微鏡與顯微結構分析
3.1.1 掃描電子顯微鏡(SEM)
3.1.2 透射電子顯微鏡(TEM)
3.2 掃描探針顯微鏡(SPM)
3.2.1 掃描隧道顯微鏡(STM)
3.2.2 原子力顯微鏡(AFM)
3.3 X射線衍射分析(XRD)
3.3.1 X射線衍射分析基礎
3.3.2 X射線衍射理論基礎
3.3.3 X射線衍射儀結構
3.3.4 XRD樣品的制備方法
3.3.5 XRD在納米材料中的應用
3.4 光譜技術
3.4.1 紅外(IR)和拉曼(Raman)光譜
3.4.2 光致發(fā)光(PL)光譜
3.4.3 X射線光電子能譜(XPS)
3.4.4 X射線精細結構吸收光譜(XAFS)
3.4.5 俄歇電子能譜(AES)
3.4.6 核磁共振(NMR)光譜
3.4.7 電子自旋共振(ESR)光譜
3.4.8 原子發(fā)射光譜(AES)及原子吸收光譜(AAS)
3.4.9 穆斯堡爾譜(Mossbauer)
3.5 納米材料的粒度分析
3.5.1 粒度分析方法
3.5.2 粒度分析的樣品制備
3.5.3 粒度分析在納米材料中的應用實例
3.6 納米材料的電學分析
3.6.1 載流子濃度與遷移率
3.6.2 場發(fā)射特性
3.6.3 電子輸運特性
第4章 納米材料的發(fā)展規(guī)劃及產(chǎn)業(yè)化前景
4.1 世界納米材料的研發(fā)戰(zhàn)略及發(fā)展前景
4.1.1 納米材料的研發(fā)戰(zhàn)略、投入及產(chǎn)出
4.1.2 主要國家納米前瞻／部署的共性
4.1.3 主要國家納米前瞻／部署研究方向比較
4.1.4 中國納米材料及其科技發(fā)展規(guī)劃
4.1.5 美國納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.6 日本納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.7 歐洲共同體納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.8 德國納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.9 英國納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.10 法國納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.11 韓國納米材料及其科技的發(fā)展
4.1.12 其他國家納米材料及其科技的發(fā)展
4.2 納米材料的產(chǎn)業(yè)化前景
4.2.1 納米技術產(chǎn)業(yè)化蓄勢待發(fā)
4.2.2 納米技術風險研究受到重視
4.2.3 中國納米材料產(chǎn)業(yè)化現(xiàn)狀及前景
參考文獻