基于機器學(xué)習(xí)的磁盤故障預(yù)測研究

定　價：￥38.00

作　者：	江天明著
出版社：	武漢大學(xué)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787307226159	出版時間：	2022-01-01	包裝：	平裝-膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　隨著互聯(lián)網(wǎng)時代的到來，數(shù)據(jù)規(guī)模的快速增長給存儲帶來了巨大挑戰(zhàn)。磁盤憑借其容量大、價格低等優(yōu)勢，被廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲。然而，磁盤屬干復(fù)雜的機械電子設(shè)備，維持其高可靠性很具挑戰(zhàn)性。磁盤故障預(yù)測技術(shù)對即將發(fā)生的磁盤故障進行預(yù)測，在磁盤故障發(fā)生之前，主動地對這些磁盤中的數(shù)據(jù)進行遷移，達到提高可靠性并降低維護開銷的目的。但仍存在如下問題亟帶解決：（1）由于缺乏故障磁盤樣本，導(dǎo)致基于有監(jiān)督分類模型的磁盤故障預(yù)測方法存在適應(yīng)性受限的問題;（2）僅使用預(yù)測準確率衡量預(yù)測方法的好壞，缺少對預(yù)測錯誤代價的評估：（3）基于扇區(qū)故障預(yù)測對存在潛在扇區(qū)故障的磁盤進行提升頻率的掃描檢測，導(dǎo)致維護開銷增加。本書即針對這3點問題做出分析并提出自己的解決辦法。

作者簡介

　　江天明，華中師范大學(xué)信息管理學(xué)院講師，主要研究方向是大數(shù)據(jù)分析、機器學(xué)習(xí)、異常檢測、推薦系統(tǒng)。在國內(nèi)外重要核心期刊和學(xué)術(shù)會議上發(fā)表多篇論文，其中SCI論文2篇，中國計算機學(xué)會推薦B類會議論文2篇；獲得發(fā)明專利1項；主持中央高校基本科研業(yè)務(wù)費專項資金青年教師項目1項、中國博士后科學(xué)基金1項。

圖書目錄

第1章緒論
1．1 數(shù)據(jù)中心磁盤故障預(yù)測的研究背景
1．2 數(shù)據(jù)中心磁盤故障預(yù)測的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1．3 本書的主要研究內(nèi)容與思路
1．4 本書章節(jié)安排
第2章基于深度生成對抗網(wǎng)絡(luò)的磁盤故障預(yù)測方法SPA
2．1 SPA的研究背景與動機
2．2 深度生成對抗網(wǎng)絡(luò)相關(guān)研究
2．3 SPA設(shè)計方案
2．4 實驗評估
2．5 本章小結(jié)
第3章磁盤故障預(yù)測中預(yù)測錯誤代價優(yōu)化方法VCM
3．1 VCM的研究背景與動機
3．2 代價敏感學(xué)習(xí)簡介
3．3 VCM設(shè)計方案
3．4 實驗評估
3．5 本章小結(jié)
第4章基于磁盤扇區(qū)故障預(yù)測的自適應(yīng)掃描檢測方法FAS
4．1 FAS的研究背景及動機
4．2 磁盤掃描檢測簡介
4．3 FAS設(shè)計方案
4．4 FAS理論分析
4．5 實驗評估
4．6 本章小結(jié)
第5章總結(jié)與展望
5．1 總結(jié)
5．2 展望
致謝
參考文獻
附錄1 攻讀學(xué)位期間發(fā)表論文目錄
附錄2 攻讀博士學(xué)位期間申請的發(fā)明專利和其他成果
附錄3 攻讀博士學(xué)位期間參與的科研項目
附錄4 英文縮略及含義