干式空心電抗器故障原因分析及防范技術(shù)措施

目錄
1 背景 1
2 故障原因探查 3
2.1 故障解體探查 3
2.2 運(yùn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析 8
2.3 結(jié)論 10
3 電抗器熱點(diǎn)溫升實測 12
3.1 傳感器的研制與布設(shè) 12
3.1.1 傳感器的研制 12
3.1.2 傳感器的布設(shè) 15
3.2 埋入式熱點(diǎn)溫升測量 20
3.2.1 固化過程溫度、應(yīng)變監(jiān)測數(shù)據(jù)分析 20
3.2.2 溫升試驗實測 22
3.3 常規(guī)表插式熱點(diǎn)溫升測量 24
3.4 結(jié)論 26
4 匝間絕緣材料過熱老化情況研究 27
4.1 過熱老化研究 27
4.1.1 材料及實驗設(shè)備 27
4.1.2 實驗研究 32
4.1.3 小結(jié) 40
4.2 基于空間電荷測量技術(shù)的絕緣特性研究 41
4.2.1 實驗部分 42
4.2.2 小結(jié) 65
4.3 結(jié)論 66
5 電抗器受力情況研究 67
5.1 電磁場與電動力的大小與危害 68
5.1.1 電動力與電磁場的數(shù)值計算方法 68
5.1.2 電磁場與電動力數(shù)值計算結(jié)果 74
5.2 應(yīng)變量實際測量 85
5.2.1 傳感器研制 85
5.2.2 固化過程應(yīng)變監(jiān)測 88
5.2.3 溫升試驗中應(yīng)變監(jiān)測 90
5.3 投入初期電抗器損壞情況 90
5.4 結(jié)論 92
6 電抗器操作過電壓情況研究 93
6.1 投切過電壓實測情況 93
6.2 電場數(shù)值分析 93
6.3 結(jié)論 96
7 電抗器結(jié)構(gòu)特征與制造技術(shù)研究 98
7.1 電抗器的結(jié)構(gòu)復(fù)雜度 99
7.2 高復(fù)雜度導(dǎo)致的失控的制造偏差 101
7.3 制造偏差的危害 102
7.3.1 電流、損耗與局部溫升的計算方法 104
7.3.2 局部偏差對電流、損耗及局部溫升的影響 109
7.3.3 溫升對絕緣性能的影響 130
7.3.4 小結(jié) 132
7.4 局部電場畸變的危害 133
7.4.1 基于有限元法的匝間電場仿真 133
7.4.2 電抗器匝間絕緣材料空間電荷分布規(guī)律 136
7.4.3 小結(jié) 138
7.5 結(jié)論 138
8 新型成型換位線電抗器 139
9 綜合防范技術(shù)措施 142
9.1 目標(biāo) 142
9.2 設(shè)計、制造 142
9.3 運(yùn)行、維護(hù) 142
9.4 退役 143
參考文獻(xiàn) 144
附錄 145