光電干涉檢測(cè)技術(shù)

第1章 干涉檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)理論
1．1 光及光的特性
1．1．1 光學(xué)簡(jiǎn)史
1．1．2 光的電磁理論
1．1．3 光的反射與折射定律
1．1．4 光的偏振理論
1．1．5 光場(chǎng)的疊加
1．1．6 光的衍射理論
1．2 光的干涉理論
1．2．1 干涉條件及其測(cè)量保證
1．2．2 分波前法干涉
1．2．3 分振幅法干涉
1．3 干涉儀的組成
1．3．1 干涉體系設(shè)計(jì)
1．3．2 光源選擇及照明系統(tǒng)
1．3．3 接收部分與接收器
1．3．4 干涉信號(hào)處理部分
1．4 干涉的應(yīng)用和干涉檢測(cè)系統(tǒng)舉例
1．4．1 “米”的定義
1．4．2 激光干涉儀線性測(cè)長(zhǎng)
1．4．3 引力波探測(cè)
1．4．4 大口徑望遠(yuǎn)鏡主鏡檢測(cè)
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第2章 干涉條紋與Zernike多項(xiàng)式
2．1 典型干涉圖分析
2．1．1 平面波干涉圖與光程差
2．1．2 球面波與平面波典型干涉圖
2．1．3 球面波與球面波典型干涉圖
2．1．4 非球面波前典型干涉圖
2．1．5 自由曲面典型干涉圖
2．2 Zernike多項(xiàng)式及其應(yīng)用
2．2．1 zernike多項(xiàng)式的數(shù)學(xué)表達(dá)及其性質(zhì)
2．2．2 基于Zernike多項(xiàng)式的波前擬合技術(shù)
2．2．3 Zernike多項(xiàng)式的應(yīng)用
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第3章 干涉條紋處理與相位恢復(fù)
3．1 單幅閉合條紋干涉圖相位恢復(fù)技術(shù)
3．1．1 單幅干涉圖相位恢復(fù)的不唯一性
3．1．2 正則化相位跟隨（RPT）技術(shù)
3．1．3 RPT的改進(jìn)
3．2 線性載波及傅里葉變換解調(diào)技術(shù)
3．2．1 基本原理
3．2．2 頻率泄漏效應(yīng)
3．2．3 殘留傾斜
3．3 移相干涉技術(shù)
3．3．1 移相干涉技術(shù)基本原理
3．3．2 移相干涉調(diào)制與解調(diào)方法
3．3．3 移相干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)方法
3．4 波面相位連續(xù)化處理
3．4．1 一維相位連續(xù)化
3．4．2 二維相位連續(xù)化
3．5 波面數(shù)據(jù)擬合分析
3．6 干涉圖預(yù)處理
3．6．1 空間濾波
3．6．2 正則化濾波
3．6．3 干涉圖孔徑確定
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第4章 常見干涉儀
4．1 邁克耳孫干涉儀
4．1．1 邁克耳孫干涉儀的基本原理
4．1．2 邁克耳孫干涉儀的光源
4．1．3 邁克耳孫干涉儀的應(yīng)用
4．2 馬赫一曾德爾干涉儀
4．2．1 馬赫一曾德爾干涉儀的基本原理
4．2．2 馬赫一曾德爾干涉儀的應(yīng)用
4．3 菲佐干涉儀
4．3．1 菲佐干涉儀的基本原理
4．3．2 菲佐干涉儀的應(yīng)用
4．4 剪切干涉儀
4．4．1 橫向剪切干涉儀
4．4．2 徑向剪切干涉儀
4．5 點(diǎn)衍射干涉儀
4．5．1 發(fā)展概述
4．5．2 點(diǎn)衍射干涉儀的基本原理
4．5．3 點(diǎn)衍射干涉儀的應(yīng)用
4．6 白光干涉儀
4．6．1 白光干涉儀的基本原理
4．6．2 白光干涉儀的應(yīng)用
4．7 散斑干涉儀
4．7．1 散斑干涉儀的理論基礎(chǔ)
4．7．2 散斑干涉儀的基本原理
4．7．3 散斑干涉儀的應(yīng)用
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第5章 干涉球面檢測(cè)與子孔徑拼接
5．1 干涉球面檢測(cè)基本原理
5．2 干涉球面檢測(cè)系統(tǒng)器件調(diào)整
5．2．1 干涉儀組件的調(diào)整
5．2．2 校準(zhǔn)檢測(cè)路消球差透鏡
5．2．3 待測(cè)球面鏡調(diào)整
5．3 球面鏡面形誤差檢測(cè)及系統(tǒng)誤差去除
5．4 球面鏡檢測(cè)范圍
5．5 子孔徑拼接技術(shù)
5．5．1 子孔徑的劃分
5．5．2 拼接算法
5．5．3 子孔徑拼接誤差
5．5．4 子孔徑拼接技術(shù)實(shí)例
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第6章 干涉非球面檢測(cè)技術(shù)與系統(tǒng)
6．1 非球面基礎(chǔ)
6．1．1 非球面的數(shù)學(xué)表征
6．1．2 非球面的幾何參數(shù)
6．1．3 常見非球面檢測(cè)技術(shù)
6．2 非球面零位干涉檢測(cè)技術(shù)
6．2．1 無(wú)像差點(diǎn)法
6．2．2 零位補(bǔ)償鏡法
6．2．3 計(jì)算全息法
6．3 非球面非零位干涉檢測(cè)技術(shù)
6．3．1 長(zhǎng)波長(zhǎng)干涉法
6．3．2 高密度探測(cè)器法
6．3．3 子孔徑拼接干涉法
6．3．4 部分補(bǔ)償干涉法
6．4 非球面面形重構(gòu)技術(shù)
6．4．1 常規(guī)干涉檢測(cè)重構(gòu)法
6．4．2 正向光線追跡重構(gòu)法
6．4．3 逆向迭代優(yōu)化重構(gòu)法
6．5 Nassl非球面檢測(cè)技術(shù)實(shí)例
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第7章 常見干涉光譜器件與系統(tǒng)
7．1 多光束干涉光譜器件
7．1．1 平行平板的多光束干涉理論
7．1．2 法布里-珀羅干涉光譜器件
7．1．3 法布里-珀羅干涉光譜器件的應(yīng)用
7．2 雙光束干涉光譜器件
7．2．1 邁克耳孫干涉光譜鑒頻器件
7．2．2 視場(chǎng)展寬邁克耳孫干涉儀
7．2．3 馬赫-曾德爾干涉儀
7．3 干涉型成像光譜儀
7．3．1 傅里葉變換干涉光譜技術(shù)
7．3．2 時(shí)間調(diào)制干涉成像光譜儀
7．3．3 空間調(diào)制干涉成像光譜儀
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第8章 光學(xué)干涉檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
8．1 離軸拋物面干涉檢測(cè)系統(tǒng)
8．1．1 設(shè)計(jì)一：無(wú)像差點(diǎn)法
8．1．2 設(shè)計(jì)二：零位補(bǔ)償鏡法
8．1．3 設(shè)計(jì)三：計(jì)算全息法
8．1．4 設(shè)計(jì)四：圓形子孔徑拼接法
8．1．5 設(shè)計(jì)五：環(huán)形子孔徑拼接法
8．2 動(dòng)態(tài)流場(chǎng)干涉檢測(cè)體系
8．2．1 設(shè)計(jì)一：馬赫一曾德爾干涉檢測(cè)系統(tǒng)
8．2．2 設(shè)計(jì)二：循環(huán)型徑向剪切干涉系統(tǒng)
8．2．3 設(shè)計(jì)三：菲佐型同步移相干涉系統(tǒng)
8．3 激光干涉引力波探測(cè)系統(tǒng)
8．3．1 引力波探測(cè)歷程
8．3．2 從廣義相對(duì)論說(shuō)起：引力波探測(cè)物理基礎(chǔ)
8．3．3 基于長(zhǎng)度變化測(cè)量的引力波探測(cè)
8．3．4 Fabrv-Perot腔
8．3．5 激光及真空系統(tǒng)
8．3．6 隔振系統(tǒng)
8．3．7 信號(hào)處理系統(tǒng)
8．3．8 引力波探測(cè)系統(tǒng)小結(jié)
習(xí)題
參考文獻(xiàn)