微電子器件封裝與測試技術

定　價：￥38.00

作　者：	李國良，劉帆著
出版社：	清華大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787302487562	出版時間：	2018-02-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	163	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書主要內(nèi)容包括微電子器件封裝技術和微電子器件測試技術兩部分。微電子器件封裝技術以典型器件封裝過程為任務載體，將其分解為晶圓劃片、芯片粘接、引線鍵合、金屬封裝、塑料封裝、電鍍、切筋成型、打印代碼、高溫反偏、功率老煉10個學習任務，每個學習任務都與生產(chǎn)工作過程緊密對接，從操作程序到操作的關鍵技術都做了詳細的講述。微電子器件測試技術則注重生產(chǎn)技術的傳授，詳細介紹了芯片的電參數(shù)、可靠性等器件相關測試技術。本書采用了大量生產(chǎn)過程的真實圖片和視頻，可以縮短學習者與生產(chǎn)現(xiàn)場的距離。本書可作為微電子專業(yè)本科及大專教材，也可作為微電子專業(yè)教師能力培訓用書，同時可作為從事微電子器件封裝與測試工作人員的參考用書。

作者簡介

暫缺《微電子器件封裝與測試技術》作者簡介

圖書目錄

目錄
第一篇微電子器件封裝技術
項目一了解微電子器件封裝技術
項目二微電子器件封裝制造技術
任務一晶圓劃片
任務二芯片粘接
任務三引線鍵合
任務四金屬封裝
任務五塑料封裝
任務六電鍍
任務七切筋成型
任務八打印代碼
任務九高溫反偏
任務十功率老煉
項目三三端穩(wěn)壓器封裝
項目四F型功率三極管封裝
第二篇微電子器件測試技術
項目五微電子芯片電參數(shù)測試
任務一管芯中測
任務二中間電參數(shù)測試
任務三終點測試
任務四動態(tài)阻抗測試
項目六微電子芯片可靠性測試
任務一高低溫電參數(shù)測試
任務二熱阻測試
任務三溫度循環(huán)測試
任務四粒子碰撞噪聲測試
項目七微電子芯片壽命測試
任務一高溫反偏測試
任務二高溫壽命測試
任務三功率老煉測試
項目八微電子芯片的其他測試
任務一內(nèi)部目測
任務二外觀及機械檢查
任務三金屬封裝器件氣密性檢測（粗檢）
任務四金屬封裝器件氣密性檢測（細檢）
附錄中華人民共和國國家標準半導體集成電路封裝術語（GB/T14113—1993）
參考文獻