騰訊iOS測(cè)試實(shí)踐

作者簡(jiǎn)介
前言
第一部分　測(cè)試觀
第1章　測(cè)試觀概述2
1.1　引言2
1.2　工程效率3
1.2.1　自動(dòng)化測(cè)試4
1.2.2　靜態(tài)代碼分析5
1.3　品質(zhì)管理7
1.4　測(cè)試分析12
1.4.1　黑盒測(cè)試分析12
1.4.2　白盒測(cè)試分析13
1.5　測(cè)試設(shè)計(jì)14
1.5.1　探索式測(cè)試14
1.5.2　基于模型的測(cè)試14
1.6　數(shù)據(jù)反推15
1.6.1　測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)15
1.6.2　線上數(shù)據(jù)17
1.7　未來(lái)的測(cè)試19
1.7.1　線上數(shù)據(jù)挖掘19
1.7.2　人工智能21
1.7.3　眾測(cè)21
1.8　小結(jié)22
第二部分　iOS特色測(cè)試
第2章　走進(jìn)iOS24
2.1　引言24
2.2　iOS平臺(tái)的興起24
2.3　iOS平臺(tái)的特殊性25
2.3.1　證書(shū)25
2.3.2　越獄26
2.3.3　灰度27
2.3.4　AppStore審核29
2.3.5　自動(dòng)化測(cè)試工具30
2.4　小結(jié)30
第3章　iOS兼容性測(cè)試31
3.1　引言31
3.2　系統(tǒng)兼容32
3.2.1　新增功能32
3.2.2　接口差異32
3.3　機(jī)型兼容37
3.3.1　新增功能37
3.3.2　屏幕變化37
3.3.3　處理器差異38
3.4　測(cè)試原則39
3.5　小結(jié)41
第4章　iOS性能測(cè)試43
4.1　引言43
4.2　性能測(cè)試簡(jiǎn)介44
4.2.1　性能測(cè)試介入時(shí)間45
4.2.2　iOS性能測(cè)試分類46
4.3　響應(yīng)速度測(cè)試方法48
4.3.1　掐表計(jì)時(shí)法48
4.3.2　日志計(jì)時(shí)法48
4.3.3　錄像分幀計(jì)時(shí)法49
4.3.4　網(wǎng)頁(yè)速度對(duì)比測(cè)試舉例51
4.4　穩(wěn)定性測(cè)試55
4.4.1　測(cè)試框架介紹56
4.4.2　穩(wěn)定性測(cè)試思路56
4.4.3　穩(wěn)定性測(cè)試結(jié)果記錄60
4.5　流量測(cè)試方法62
4.5.1　系統(tǒng)流量統(tǒng)計(jì)方法62
4.5.2　數(shù)據(jù)包分析法63
4.6　電量測(cè)試方法66
4.7　內(nèi)存測(cè)試方法67
4.8　流暢性測(cè)試70
4.9　小結(jié)71
第5章　iOS自動(dòng)化測(cè)試入門72
5.1　引言72
5.2　自動(dòng)化測(cè)試適用場(chǎng)景72
5.3　自動(dòng)化測(cè)試框架73
5.3.1　接口自動(dòng)化測(cè)試框架73
5.3.2　UI自動(dòng)化測(cè)試框架74
5.4　XCTest自動(dòng)化框架介紹75
5.4.1　框架集成75
5.4.2　接口測(cè)試78
5.4.3　UI測(cè)試79
5.4.4　優(yōu)缺點(diǎn)分析85
5.5　KIF自動(dòng)化框架介紹86
5.5.1　框架集成86
5.5.2　用例編寫(xiě)89
5.5.3　優(yōu)缺點(diǎn)分析92
5.6　小結(jié)93
第6章　iOS測(cè)試框架二次開(kāi)發(fā)94
6.1　引言94
6.1.1　二次開(kāi)發(fā)總體架構(gòu)94
6.1.2　整體部署圖94
6.1.3　整體架構(gòu)圖95
6.1.4　架構(gòu)分析96
6.2　底層驅(qū)動(dòng)層97
6.2.1　XCTest接口封裝97
6.2.2　消息處理模塊101
6.2.3　驅(qū)動(dòng)模塊104
6.3　中間層113
6.3.1　控件調(diào)用封裝層113
6.3.2　截圖模塊115
6.3.3　日志處理模塊118
6.4　應(yīng)用層121
6.4.1　自動(dòng)化腳本121
6.4.2　配置文件123
6.4.3　日志分析系統(tǒng)123
6.4.4　風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)128
6.5　截圖智能分析130
6.5.1　OpenCV簡(jiǎn)介130
6.5.2　OpenCV模板識(shí)別130
6.5.3　OpenCV實(shí)踐過(guò)程132
6.6　自動(dòng)化持續(xù)集成135
6.6.1　Jenkins簡(jiǎn)介135
6.6.2　Jenkins特點(diǎn)135
6.6.3　使用方式135
6.6.4　配置Job137
6.7　自動(dòng)化實(shí)踐效果139
6.7.1　部署情況139
6.7.2　投入產(chǎn)出比139
6.7.3　運(yùn)營(yíng)數(shù)據(jù)140
6.8　小結(jié)142
第7章　iOS精準(zhǔn)測(cè)試143
7.1　引言143
7.1.1　傳統(tǒng)測(cè)試遇到的問(wèn)題143
7.1.2　敏捷模型的挑戰(zhàn)144
7.1.3　解決方案145
7.2　精準(zhǔn)測(cè)試概念146
7.2.1　業(yè)界的精準(zhǔn)測(cè)試概念146
7.2.2　我們自己的理解146
7.3　傳統(tǒng)測(cè)試到精準(zhǔn)測(cè)試的演變148
7.3.1　精準(zhǔn)測(cè)試與傳統(tǒng)測(cè)試的對(duì)比148
7.3.2　精準(zhǔn)測(cè)試滿足敏捷需求149
7.4　精準(zhǔn)測(cè)試實(shí)踐之路149
7.4.1　精準(zhǔn)測(cè)試總體架構(gòu)圖149
7.4.2　代碼分析150
7.4.3　用例關(guān)系庫(kù)154
7.4.4　SVN代碼變化監(jiān)控分析156
7.4.5　精準(zhǔn)自動(dòng)化方案158
7.4.6　精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)流程小結(jié)159
7.4.7　精準(zhǔn)實(shí)踐流程160
7.4.8　精準(zhǔn)解決問(wèn)題164
7.5　小結(jié)165
第三部分　通用測(cè)試實(shí)踐
第8章　探索式測(cè)試168
8.1　引言168
8.2　探索式測(cè)試的發(fā)展史168
8.2.1　ET 1.0169
8.2.2　ET 1.5169
8.2.3　ET 2.0169
8.2.4　ET 3.0170
8.3　探索式測(cè)試入門實(shí)踐170
8.3.1　實(shí)踐前提171
8.3.2　實(shí)踐過(guò)程174
8.3.3　實(shí)踐后續(xù)177
8.4　研發(fā)各個(gè)階段的實(shí)踐形式179
8.4.1　測(cè)試設(shè)計(jì)179
8.4.2　迭代測(cè)試181
8.4.3　集成測(cè)試182
8.4.4　回歸測(cè)試185
8.4.5　上線測(cè)試186
8.5　實(shí)踐效果展示187
8.6　探索式測(cè)試的答疑189
8.6.1　理論方面的問(wèn)題189
8.6.2　實(shí)踐過(guò)程的問(wèn)題189
8.6.3　提升方面的問(wèn)題190
8.7　小結(jié)190
第9章　標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試191
9.1　引言191
9.2　功能測(cè)試的困惑191
9.2.1　手工測(cè)試現(xiàn)狀191
9.2.2　黑盒測(cè)試?yán)Ь?92
9.2.3　外包測(cè)試模式192
9.3　測(cè)試分析模型192
9.3.1　ACC模型193
9.3.2　HTSM模型193
9.3.3　SBTM模型194
9.3.4　漫游模型194
9.3.5　場(chǎng)景模型196
9.4　點(diǎn)線面測(cè)試體系197
9.4.1　建筑模型197
9.4.2　責(zé)任分工199
9.4.3　三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化200
9.5　實(shí)踐案例202
9.5.1　承載體和價(jià)值點(diǎn)提煉202
9.5.2　細(xì)化承載體和價(jià)值點(diǎn)204
9.5.3　變量因子及策略205
9.5.4　動(dòng)態(tài)測(cè)試測(cè)程210
9.5.5　測(cè)試閉環(huán)215
9.6　收益評(píng)估216
9.6.1　充分利用動(dòng)態(tài)思維216
9.6.2　建立用戶角度測(cè)試模型217
9.6.3　測(cè)試過(guò)程及管理優(yōu)化218
9.7　小結(jié)220
第10章　缺陷分析221
10.1　引言221
10.2　缺陷理論基礎(chǔ)221
10.2.1　缺陷的定義221
10.2.2　缺陷的屬性222
10.2.3　缺陷的修復(fù)成本222
10.3　缺陷定位（逆向分析）223
10.3.1　望224
10.3.2　聞224
10.3.3　問(wèn)225
10.3.4　切226
10.4　缺陷報(bào)告（正向演進(jìn)）226
10.4.1　缺陷現(xiàn)象—缺陷影響227
10.4.2　復(fù)現(xiàn)路徑—測(cè)試思想228
10.4.3　缺陷原理—代碼關(guān)注229
10.4.4　缺陷思考—擴(kuò)展總結(jié)231
10.5　討論分析232
10.5.1　投入產(chǎn)出比233
10.5.2　適用人群234
10.5.3　適用階段234
10.6　小結(jié)234
后記235
附錄A　參考引用及擴(kuò)展閱讀238
附錄B　相關(guān)網(wǎng)址收錄239