光電測(cè)試技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程

定　價(jià)：￥28.00

作　者：	田亮亮，胡榮，蒲勇著
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育電子電氣信息類應(yīng)用型本科系列規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	工學(xué) 教材研究生/本科/專科教材

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ISBN：	9787030514622	出版時(shí)間：	2017-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	156	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本教材針對(duì)光電材料的光電材料的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行內(nèi)容編排，既包含了諸如XRD、SEM等常規(guī)分析測(cè)試手段，也包含了多種光電材料的專業(yè)測(cè)試技術(shù).本書適合電子、光電專業(yè)大中專學(xué)生使用。也適合從事相關(guān)研究人員參考用書。