Lattice可編程器件測(cè)試技術(shù)

定　價(jià)：￥30.00

作　者：	吳丹，石堅(jiān)，周紅著
出版社：	西北工業(yè)大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787561242537	出版時(shí)間：	2015-01-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

《Lattice可編程器件測(cè)試技術(shù)》從工程實(shí)際應(yīng)用出發(fā)，對(duì)Lattice可編程器件自動(dòng)編程與測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了分析和討論。主要內(nèi)容包括針對(duì)可編程單元測(cè)試的編程資源測(cè)試技術(shù)、基于可測(cè)性設(shè)計(jì)的邏輯資源測(cè)試技術(shù)、針對(duì)邏輯電路測(cè)試向量生成的功能測(cè)試生成算法、保證測(cè)試向量和測(cè)試程序開發(fā)效率和質(zhì)量的可編程器件測(cè)試技術(shù)規(guī)范、研究緒論及結(jié)果分析等。
　　《Lattice可編程器件測(cè)試技術(shù)》可供相關(guān)工程技術(shù)人員、科研人員參考，也可作為高等學(xué)校有關(guān)專業(yè)教材或教學(xué)參考書。