現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)

定　價(jià)：￥39.80

作　者：	王文生等著
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育"十二五"規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	大學(xué)教材教材

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ISBN：	9787111419747	出版時(shí)間：	2013-07-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	313	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材：現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》側(cè)重于把各種光學(xué)測(cè)試技術(shù)與CCD等現(xiàn)代探測(cè)器、EALCD空間光調(diào)制器和計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合，故所討論的方法具有實(shí)時(shí)化、自動(dòng)化和數(shù)字化特點(diǎn)。為了提高測(cè)試精度，《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材：現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》中引入了數(shù)字圖像處理算法，并把各種算法，包括傅里葉變換、小波變換、拉普拉斯、綜合識(shí)別函數(shù)等成功地應(yīng)用于相關(guān)探測(cè)、全息測(cè)試、散斑測(cè)試等中，使光學(xué)、專業(yè)數(shù)學(xué)和計(jì)算機(jī)學(xué)相結(jié)合。本書(shū)中的許多測(cè)試實(shí)例是作者科研團(tuán)隊(duì)和國(guó)內(nèi)外許多專家的科研成果，故本書(shū)將理論與測(cè)試實(shí)踐緊密結(jié)合，所討論的方法具有實(shí)用性和先進(jìn)性。全書(shū)的章、節(jié)、目、圖和專業(yè)詞匯均用英語(yǔ)標(biāo)出，且每章均給出英語(yǔ)專業(yè)詞匯列表，以利于雙語(yǔ)教學(xué)和文獻(xiàn)查閱。全書(shū)共分十章，內(nèi)容包括：干涉測(cè)試基礎(chǔ)，單頻干涉術(shù)，雙頻干涉術(shù)，莫爾干涉術(shù)，全息術(shù)，全息干涉術(shù)，全信息測(cè)量技術(shù)，散斑干涉術(shù)，光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù)，光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器。每章末均附有習(xí)題?！镀胀ǜ叩冉逃笆濉币?guī)劃教材：現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》主要適用于光電信息工程、精密儀器與測(cè)試專業(yè)的本科生和研究生，同時(shí)也可供相關(guān)科研工作者參考。

作者簡(jiǎn)介

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圖書(shū)目錄

前言（Preface）
第1章干涉測(cè)試基礎(chǔ)（Chapter 1Foundation of Interference Testing）
1.1 干涉與干涉術(shù)（Interference and Interferometry）
1.2 基本關(guān)系式（Basic Relations）
1.3 干涉條紋的特性（Characteristics of Interference Fringes）
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉（ Interference of Monochromatic Plane Wave with Different Frequency）
1.5 球面波的干涉（Interference of Spherical Wave）
1.6 光源的相干性［9~11］（Coherence of Light Source）
1.7 對(duì)干涉儀元件的一般要求［12］（General Requirements for Interferometer Elements）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第2章單頻干涉術(shù)（Chapter 2Mono?frequency Interferometry）
2.1 干涉儀及其分類（Interferometer and Classification）
2.2 波前形狀的研究（Researching of Wavefront Shape）
2.3 米基準(zhǔn)的測(cè)定\[2~4\]（Measurement of Meter Benchmark）
2.4 長(zhǎng)度測(cè)量（Measurement of Length）
2.5 位移測(cè)量（Displacement Measurement）
2.6 CCD?微機(jī)系統(tǒng)在干涉測(cè)長(zhǎng)中的應(yīng)用\[5，6\]（Application of CCD?computer System in Interference Length Measurement）
2.7 波面位相自動(dòng)探測(cè)技術(shù)（Automatic Detection Technology of Wave Front Phase）
2.8 平行平板的楔度測(cè)量（Wedge Angle Measurement of Plane Parallel Plate）
2.9 小角度測(cè)量和介質(zhì)折射率測(cè)量［16］（Measurement of Small Angle and Refractive Index）
2.10 激光波長(zhǎng)測(cè)量\[17\]（Measurement of Laser Wavelength）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第3章雙頻干涉術(shù)（Chapter 3Double Frequency Interferometry）
3.1 雙頻干涉術(shù)（Double Frequency Interferometry）
3.2 光頻調(diào)制技術(shù)（Light frequency Modulation Technology）
3.3 激光外差干涉儀\[6~9\]（Laser Heterodyne Interferometer）
3.4 外差偏振測(cè)距干涉儀\[10，11\]（Polarizing Heterodyne Range Finding Interferometer）
3.5 實(shí)時(shí)外差干涉儀\[12\]（Real?time Heterodyne Interferometer）
3.6 空氣折射率的測(cè)定\[13，14\]（Refractive Index Measurement of Air）
3.7 微振動(dòng)和角度測(cè)量（Measurement of Micro?vibration and Angle）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第4章莫爾干涉術(shù)（Chapter 4Moire Interferometry）
4.1 莫爾干涉測(cè)量原理（Measurement Principle of Moire Interference）
4.2 莫爾干涉術(shù)測(cè)位移（Displacement Measurement with Moire Interferometry）
4.3 莫爾干涉術(shù)測(cè)面形（Surface Contour Measurement with Moire Interferometry）
4.4 莫爾干涉術(shù)測(cè)變形和振動(dòng)（Measurement of Deformation and Vibration with Moire Interferometry）
4.5 莫爾干涉術(shù)測(cè)流體折射率及其梯度（Refractive Index and Gradient Measurement of Fluid with Moire Interferometry）
4.6 外差莫爾干涉術(shù)測(cè)平面度\[15\]（Flatness Measurement with Heterodyne Moire Interferometry）
4.7 莫爾條紋的自動(dòng)處理\[16，17\]（Automatic Processing of Moire Fringes）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第5章全息術(shù)（Chapter 5Holography）
5.1 全息術(shù)原理（Holographic Principle）
5.2 全息圖的記錄、存儲(chǔ)和重現(xiàn)（Record， Storage and Reconstruction of Hologram）
5.3 全息圖的分類（Classification of Hologram）
5.4 全息圖的基本性質(zhì)（Basic Characteristics of Hologram）
5.5 數(shù)字全息記錄與重建原理［5~9］（Principle of Digital Holographic Recording and Reconstruction）
5.6 全息術(shù)的應(yīng)用（Holographic Application）
5.7 實(shí)驗(yàn)中注意的問(wèn)題（Notice in Experiments）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第6章全息干涉術(shù)（Chapter 6Holographic Interferometry）
6.1 全息干涉術(shù)原理（Principle of Holographic Interferometry）
6.2 全息干涉術(shù)的特征（Characters of Holographic Interferometry）
6.3 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)（Real?Time Holographic Interferometry）
6.4 雙曝光干涉術(shù)（Double Exposure Holographic Interferometry）
6.5 時(shí)間平均全息干涉術(shù)（Time?average Holographic Interferometry）
6.6 頻閃照明全息干涉術(shù)（Holographic Interferometry with Stroboscopic Illumination）
6.7 全息等高線術(shù)（Holographic Contour Method）
6.8 反射照明全息圖的計(jì)算（Calculation of Reflective Illumination Hologram）
6.9 數(shù)字全息干涉術(shù)（Digital Holographic Interferometry）
6.10 全息干涉術(shù)的應(yīng)用（Application of Holographic Interferometry）
6.11 計(jì)算全息圖檢驗(yàn)非球面（Aspheric Surface Testing by Computer?generated Hologram）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第7章全信息測(cè)量技術(shù)（Chapter 7All Information Measurement Technology）
7.1 自動(dòng)處理全息圖（Automatic Processing Hologram）
7.2 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量（All information Measurement of Real?time Holographic Interferometry）
7.3 雙曝光全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量（All Information Measurement of Double?exposure Holographic Interferometry）
7.4 全信息測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)（Optical System of All Information Measurement）
7.5 電學(xué)系統(tǒng)與自控技術(shù)（Electrical System and Auto?control Technology）
7.6 表面變形的全信息測(cè)量（All Information Measurement of Deformed Surface）
7.7 膠體硬化時(shí)厚度變化的全信息測(cè)量\[12\]（All Information Measurement of Thickness Changing under Adhesive Shrinking）
7.8 基于EALCD的數(shù)字全息干涉術(shù)\[14\]（Digital Holographic Interferometry Based on EALCD）
7.9 四步數(shù)字相移全息干涉術(shù)三維變形測(cè)量\[17，18\]（3D Deformation Measurement Based on Four?step Digital Phase Shifting）
本章習(xí)題(Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)(Terminologies）
參考文獻(xiàn)(References）
第8章散斑干涉術(shù)（Chapter 8Speckle Interferometry）
8.1 散斑計(jì)量學(xué)的發(fā)展歷程（Development Course of Speckle Metrology）
8.2 散斑及其特性（Speckle and Its Characteristics）
8.3 數(shù)字散斑照相術(shù)（Digital Speckle Photography）
8.4 數(shù)字散斑干涉術(shù)測(cè)物面形變（Digital Speckle Interferometry for Deformation Measurement）
8.5 數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)（Digital Speckle Correlation Technique）
8.6 剪切散斑干涉術(shù)（Shearing Speckle Interferometry）
本章習(xí)題（Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)（Terminologies）
參考文獻(xiàn)（References）
第9章光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù)（Chapter 9Optical Correlation Test Technology）
9.1 光學(xué)信息處理技術(shù)（Technology of Optical Information Processing）
9.2 傅里葉變換原理（Principle of Fourier Transform）
9.3 范德?tīng)?盧格特（Vander?lugt）相關(guān)器（Vander?lugt Correlator）
9.4 實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器（Real?time Joint Transform Correlator）
9.5 基于實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器的濾波技術(shù)（Filtering Technique Based on Real?time Joint Transform Correlator）
9.6 畸變不變目標(biāo)識(shí)別技術(shù)（Distortion Invariant Target Recognition Technology）
本章習(xí)題（Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)（Terminologies）
參考文獻(xiàn)（References）
第10章光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器（Chapter 10Light Source， Recording Material and Detector）
10.1 全息干涉對(duì)光源的要求（The Requirements for Light Source of Holographic Interference）
10.2 激光光源（Laser Light Source）
10.3 對(duì)全息記錄材料的要求（The Requirements for Recording Materials in Holography）
10.4 鹵化銀照相乳膠（Halogenating Silver Photographic Emulsion）
10.5 光導(dǎo)熱塑料\[8\]（Photoconductor Thermoplastic Film）
10.6 硅酸鉍晶體\[9，10\]（BSO Crystal）
10.7 電視攝像機(jī)（Television Camera）
10.8 固體圖像傳感器\[13，14\]（Solid Image Sensor）
10.9 空間光調(diào)制器（Spatial Light Modulator）
本章習(xí)題（Exercises）
本章術(shù)語(yǔ)（Terminologies）
參考文獻(xiàn)（References）