電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編

定　價：￥138.00

作　者：	中國標準出版社
出版社：	中國標準出版社
叢編項：
標　簽：	電工電子

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ISBN：	9787506637664	出版時間：	2005-10-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	760	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編》（第三版），共匯集了截至2005年7月底我國正式發(fā)布實施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面的國家標準共計75項，涉及總則、術語、各種試驗方法、試驗導則及環(huán)境參數(shù)測量方法等。其中1999年以來重新制修訂的有19項。GB/T 6999—1986《環(huán)境試驗用相對濕度查算表》因篇幅原因，　收入在《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標準匯編》（第二版）中。為便于使用，書后附有這些標準與國際標準的采用關系以及與舊版標準的代替關系表。

作者簡介

暫缺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編》作者簡介

圖書目錄

GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則
GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術語
GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊
GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞
GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗EC和導則：傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）
GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb：設備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗FC和導則：振動（正弦）
GB/T 2423.11—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fd：寬頻帶隨機振動——一般要求
GB/T 2423.12—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fda：寬頻帶隨機振動——高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fdb：寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗FdC：寬頻帶隨機振動——低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J和導則：長霉
GB/T 2423.17—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka：鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18—2001　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.19—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗KC：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB/T 2423.20—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB/T 2423.21—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Q：密封
GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB/T 2423.28—1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T：錫焊試驗方法
GB/T 2423.29—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U：引出端及整體安裝件強度
GB/T 2423.30—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗XA和導則：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB/T 2423.33—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗KCa：高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
GB/T 2423.35—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFC：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.36—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFC：散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.37—1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L：砂塵試驗方法
GB/T 2423.38—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗R：水試驗方法
GB/T 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗EC：彈跳試驗方法
GB/T 2423.40—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41—1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風壓試驗方法
GB/T 2423.42—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.43—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（FC和Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學試驗中的安裝要求和導則
GB/T 2423.44—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eg：撞擊彈簧錘
GB/T 2423.45—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ef：撞擊擺錘
GB/T 2423.47—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fg：聲振
GB/T 2423.48—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ff：振動——時間歷程法
GB/T 2423.49—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fe：振動——正弦拍頻法
GB/T 2423.50—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要
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