射線檢測

     目 錄
   前言
   1射線檢測物理基礎
    1.1原子和基本粒子
    1.1.1原子的核模型
    1.1.2玻爾的氫原子理論
    1.1.3原子的殼層結構
    1.1.4基本粒子
    1.2原子核和放射性衰變
    1.2.1核結構模型
    1.2.2原子核的基本性質(zhì)
    1.2.3放射性衰變
    1.3X射線和Υ射線的性質(zhì)
    1.3.1X射線的本質(zhì)和一般性質(zhì)
    1.3.2連續(xù)X射線
    1.3.3標識X射線
    1.3.4X射線譜
    1.3.5Υ射線和穆斯堡爾效應
    1.4射線與物質(zhì)的相互作用
    1.4.1光電效應
    1.4.2相干散射
    1.4.3康－吳散射
    1.4.4電子對效應
    1.4.5俄歇效應和熒光輻射
    1.5射線貫穿物質(zhì)后的減弱和
    強度計算
    1.5.1射線貫穿物質(zhì)后的減弱
    1.5.2連續(xù)X射線的譜線分布
    計算和線質(zhì)
    1.5.3散亂X射線的計算和測量
    1.6射線探傷原理
   2射線檢測工藝
    2.1射線透照靈敏度
    2.1.1射線照相影像的質(zhì)量因素
    2.1.2IQI靈敏度
    2.1.3IQI靈敏度與射線照相
    技術因素的關系
    2.2透照規(guī)范與曝光曲線
    2.2.1引言
    2.2.2透照電壓的最高值和最低值
    2.2.3焦距的最短值
    2.2.4曝光量的最低適宜值
    2.2.5曝光曲線
    2.2.6曝光曲線的應用和制作
    2.2.7X光膠片感光特性曲線和
    曝光曲線的修正
    2.2.8射線照相時的工藝措施
    2.3有效透照范圍
    2.3.1引言
    2.3.2射線照相的厚度寬容度
    2.3.3平板射線照相的有效透照
    范圍
    2.3.4圓環(huán)射線照相的有效透照
    范圍
    2.3.5圓柱射線照相的有效透照
    范圍
    2.3.6圓管射線照相的有效透照
    范圍
    2.4缺陷的可檢出性
    2.4.1引言
    2.4.2體積類缺陷的可檢出性
    2.4.3分散細小缺陷的可檢出性
    2.4.4面狀缺陷的可檢出性
    2.4.5缺陷的可檢出性與絲型
    IQI靈敏度的關系
    2.4.6不同位置缺陷的可檢出性
    2.5鑄件的射線照相
    2.5.1鑄件射線照相的基本原理
    2.5.2鑄件射線照相的一般技術
    2.5.3鑄件射線照相的顯示
    2.6焊縫的射線照相
    2.6.1焊縫射線照相原理
    2.6.2焊縫的射線照相工藝
    2.7平板試件的透照
    2.7.1透照條件的確定
    2.7.2考慮到透照靈敏度的曝光
    曲線圖
    2.8有余高試件的透照
    2.8.1帶余高試件的散射比的計算
    方法及其測量
    2.8.2余高對射線底片對比度的
    影響
   3射線檢測新技術
    3.1射線實時成像
    3.1.1射線實時成像原理
    3.1.2熒光屏
    3.1.3像質(zhì)與射線成像參數(shù)
    3.1.4射線源
    3.1.5遠距離觀察系統(tǒng)
    3.1.6射線實時成像中的圖像優(yōu)化
    3.1.7微焦點射線實時成像
    3.2高能射線檢測
    3.2.1高能射線設備概述
    3.2.2高能輻射特性
    3.2.3檢測靈敏度和影像質(zhì)量
    3.2.4高能X射線照相應用的
    幾個問題
    3.2.5高能檢測用加速器的發(fā)展
    趨勢
    3.3中子射線檢測法
    3.3.1中子射線檢測原理及其特點
    3.3.2中子射線源的類型與選用
    3.3.3中子圖像檢測器
    3.3.4中子射線照相的應用
    3.4運動中的射線照相
    3.4.1運動中射線照相的特點
    3.4.2運動中射線照相的適用環(huán)境
    3.4.3運動中射線照相應用舉例
    3.4.4運動中射線照相步移技術
    3.5工業(yè)射線CT技術
    3.5.1CT技術基本原理
    3.5.2射線CT的新進展
    3.5.3射線CT的評價參數(shù)
    3.5.4射線CT的應用舉例
    3.6背散射檢測技術
    3.6.1康普頓背散射成像原理
    3.6.2康普頓背散射成像的
    靈敏度與襯度
    3.6.3康普頓背散射系統(tǒng)
    3.6.4背散射測厚系統(tǒng)
    3.6.5β背散射檢測技術
    3.7輻射檢測技術
    3.7.1最佳輻射源的選擇
    3.7.2輻射檢測器
    3.8圖像數(shù)據(jù)分析
    3.8.1數(shù)字化圖像
    3.8.2圖像增強方法
    3.8.3圖像數(shù)據(jù)處理
    3.8.4圖像數(shù)據(jù)分析應用舉例
    3.9高速射線照相技術
    3.9.1高速射線照相用X射線管
    3.9.2高速射線照相圖像
    3.9.3高速射線照相的應用
   參考文獻