電子元器件的故障原因及其對策：電子設(shè)備設(shè)計師必讀

定　價：￥25.00

作　者：	（日）吉田弘之著；楊啟善，劉風(fēng)華等譯
出版社：	中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	電子元器件

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ISBN：	9787506632317	出版時間：	2004-01-01	包裝：	平裝
開本：	21cm	頁數(shù)：	251	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　迄今為止提及可靠性工程用書，通常很多人仍無可奈何的認(rèn)為無非就是使用大量數(shù)學(xué)進(jìn)行統(tǒng)計、概率計算，“靠計算既不能減少故障，也不能延長壽命”。正是基于上述原因，本書通過列舉大量故障事例，就具體電子元器件的使用及特性等進(jìn)行說明，同時盡量避免使用數(shù)學(xué)公式，也未涉及軟件、程序等內(nèi)容，僅就硬件部分進(jìn)行了論述。盡管已進(jìn)入所謂軟件時代，但軟件是通過硬件運作，而系統(tǒng)的極限也取決于硬件。例如，打印機發(fā)生故障，靠任何軟件仍是打印不出來，原因是硬件發(fā)生故障通常是系統(tǒng)故障。然而，硬件本身發(fā)生故障原因的種類也很多，是難以全面論述硬件故障情況的。因此，本書中有待于探討的課題還很多，對必要的電子元器件特性的論述仍有空白和不足之處。但是，本書對電子元器件的原理與結(jié)構(gòu)、特性與可靠性進(jìn)行了解析說明，是一本極為少見的實用性書籍。本書有助于幫助設(shè)計人員找出電子元器件使用不當(dāng)、判斷故障原因之所在，是一本專門為電子設(shè)備的設(shè)計人員、制造部門以及檢驗部門的人員而編寫的參考書。

作者簡介

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圖書目錄

第1章減少故障延長壽命
第2章電子設(shè)備可靠性改善的歷史
2-1 可靠性工程學(xué)的產(chǎn)生
2-2 硅半導(dǎo)體和故障
2-3 樹脂材料的改善
第3章何為電子設(shè)備的故障
3-1 何為故障
3-2 電子設(shè)備的故障原因
第4章半導(dǎo)體器件的故障
4-1 半導(dǎo)體的歷史
4-2 半導(dǎo)體器件的故障
第5章電容器的故障
5-1 電容器的性質(zhì)
5-2 電容器的構(gòu)造
5-3 鋁電解電容器
5-4 鋁固體電容器
5-5 鉭固體電容器
5-6 陶瓷電容器
5-7 薄膜電容器
5-8 超級電容器
5-9 電容器的自我修復(fù)
第6章電阻器
6-1 電阻器的種類和結(jié)構(gòu)
6-2 電阻器的故障和問題
第7章印刷電路板
7-1 印刷電路板的種類和構(gòu)造
7-2 印刷電路板的問題點
第8章焊料
8-1 何為焊料
8-2 焊料的問題點和故障
8-3 無鉛焊料
第9章電源部分
9-1 電源的種類
9-2 電源部分的故障和問題點
第10章離子遷移與晶須
10-1 離子遷移
……
第11章溫度、濕度與故障
第12章故障分析
第13章良品分析
第14章電子設(shè)備、電子元件的可靠性試驗
第15章工廠的改善
第16章電子設(shè)備的故障不再現(xiàn)
第17章為了減少故障延長壽命
結(jié)束語
參考資料
索引