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當(dāng)前位置：首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)無線電電子學(xué)、電信技術(shù)半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)教程（基礎(chǔ)部分）

半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)教程（基礎(chǔ)部分）

半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)教程（基礎(chǔ)部分）

定　價(jià)：￥2.15

作　者：	鄭云光主編
出版社：	天津大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	半導(dǎo)體技術(shù)

ISBN：	9787561801826	出版時(shí)間：	1989-12-01	包裝：
開本：	26cm	頁數(shù)：	155頁	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書介紹半導(dǎo)體材料物理參數(shù)、表面參數(shù)和雙極與場效應(yīng)晶體管參數(shù)以及TTL、CMOS集成電路與運(yùn)算放大器參數(shù)的測試方法，實(shí)驗(yàn)原理和測試分析方法。

作者簡介

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