無機(jī)非金屬材料測(cè)試方法

第一章 X射線衍射分析
第一節(jié) X射線物理基礎(chǔ)
一、X射線的性質(zhì)
二、X射線的獲得
三、X射線譜
四、X射線與物質(zhì)的相互作用
五、X射線的吸收及其應(yīng)用
第二節(jié) 倒點(diǎn)陣
一、倒點(diǎn)陣(倒格子)
二、晶面間距和晶面夾角的計(jì)算
三、晶帶
第三節(jié) X射線衍射幾何條件
一、勞厄方程
二、布喇格定律
三、倒易空間與衍射條件(厄瓦爾德圖解)
四、X射線衍射方法
第四節(jié) X射線衍射線束的強(qiáng)度
一、單個(gè)電子的散射，偏振因子
二、原子對(duì)X射線的散射，原子散射因子
三、晶胞對(duì)X射線的散射，結(jié)構(gòu)因子
四、小晶體對(duì)X射線的衍射、干涉函數(shù)
五、溫度因數(shù)
六、重復(fù)因數(shù)
七、角因數(shù)
八、吸收因數(shù)
第五節(jié) 單晶體的研究方法
一、勞厄法
二、轉(zhuǎn)動(dòng)晶體法(轉(zhuǎn)晶法)
三、魏森堡照相法和旋進(jìn)照相法
第六節(jié) 多晶體的研究方法
一、粉末或多晶體衍射原理
二、德拜法
三、其他照相方法
第七節(jié) 衍射儀法
一、粉末衍射儀的構(gòu)造及衍射幾何
二、探測(cè)器
三、記錄顯示系統(tǒng)
四、衍射儀的調(diào)整與工作方式
五、衍射線峰位確定方法
六、衍射線積分強(qiáng)度測(cè)量
七、重疊峰的分離
八、四圓衍射儀
第八節(jié) X射線物相分析
一、定性相分析
二、定量相分析
第九節(jié) 晶胞參數(shù)的測(cè)定
一、粉晶衍射圖的標(biāo)定方法
二、系統(tǒng)誤差的來源和外推函數(shù)
三、校正誤差的方法
第十節(jié) X射線衍射分析在其他方面的應(yīng)用
一、微晶尺度或嵌鑲塊大小的測(cè)定
二、單晶取向的測(cè)定
參考文獻(xiàn)
第二章 電子顯微分析
第一節(jié) 電子光學(xué)基礎(chǔ)
一、光學(xué)顯微鏡的局限性
二、電子的波性及其波長
三、電子在電磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)和電子透鏡
四、電磁透鏡的像差和理論分辨本領(lǐng)
五、電磁透鏡的場(chǎng)深和焦深
第二節(jié) 電子與固體物質(zhì)的相互作用
一、電子散射
二、內(nèi)層電子激發(fā)后的弛豫過程
三、自由栽流子
四、各種電子信號(hào)
五、相互作用體積與信號(hào)產(chǎn)生的深度和廣度
第三節(jié) 透射電子顯微分析
一、透射電子顯微鏡
二、復(fù)型膜電子顯微像
三、透射電鏡樣品制備方法
四、電子衍射
五、薄晶體電子顯微像
六、高壓電子顯微鏡
第四節(jié) 掃描電子顯微分析
一、掃描電子顯微鏡
二、掃描電鏡圖像及其襯度
三、掃描電鏡試樣制備
第五節(jié) 電子探針X射線顯微分析
一、電子探針儀的構(gòu)造和工作原理
二、波譜儀和能譜儀比較
三、分析方法及其應(yīng)用
第六節(jié) 分析電子顯微鏡
第七節(jié) 電子顯微分析在無機(jī)非金屬材料科學(xué)中的應(yīng)用
一、粉末顆粒分析
二、玻璃分相的觀察
三、在陶瓷材料方面的應(yīng)用
四、在水泥和混凝土方面的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第三章 熱分析
第一節(jié) 概述
一、熱分析方法的起源與歷史
二、熱分析的術(shù)語定義
第二節(jié) 差熱分析
一、差熱分析的基本原理
二、差熱分析儀
三、差熱分析方法
四、差熱曲線的判讀及影響因素
五、差熱分析在定量工作中的應(yīng)用
六、差熱分析技術(shù)的發(fā)展
七、差熱分析的應(yīng)用
第三節(jié) 熱重分析
一、熱重分析的基本原理
二、熱重分析儀
三、熱重分析的實(shí)驗(yàn)方法
四、熱重分析的應(yīng)用
第四節(jié) 熱膨脹法
一、熱膨脹的基本原理
二、熱膨脹儀
三、熱膨脹儀的應(yīng)用實(shí)例
第五節(jié) 其他熱分析方法
一、熱一力法
二、熱釋電流法
三、熱釋光法
參考文獻(xiàn)
第四章 振動(dòng)光譜
第一節(jié) 振動(dòng)光譜的基本原理
一、光與分子的相互作用
二、分子振動(dòng)模型
第二節(jié) 紅外光和紅外光譜
一、紅外光
二、紅外光譜法
第三節(jié) 紅外分光光度計(jì)
一、紅外分光光度計(jì)的結(jié)構(gòu)原理
二、紅外分光光度計(jì)的組成部件
三、紅外分光光度計(jì)的操作性能及影響因素
第四節(jié) 紅外光譜實(shí)驗(yàn)技術(shù)
一、制樣方法對(duì)紅外光譜圖質(zhì)量的影響
二、固體樣品的制備
三、液體和氣體制樣法
四、特殊紅外光譜分析技術(shù)
第五節(jié) 激光拉曼光譜
一、基本原理
二、儀器與實(shí)驗(yàn)技術(shù)
三、紅外光譜與拉曼光譜的比較
第六節(jié) 振動(dòng)光譜在材料研究中的應(yīng)用
一、無機(jī)化舍物的基團(tuán)振動(dòng)頻率
二、礦物的紅外光譜定性分析^
三、礦物紅外光譜的定量分析
四、分子常數(shù)計(jì)算
五、表面吸附性能
六、測(cè)定硅鋁酸鹽中的硅鋁比
七、紅外光譜法在硅酸鹽研究中的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第五章 光電子能譜分析
第一節(jié) 概述
一、表面分析可以得到的信息
二、表面分析法的特點(diǎn)
三、各種表面分析儀及其研究目的
第二節(jié) 光電子能譜的基本原理
一、光與物質(zhì)的相互作用
二、光電子能譜測(cè)量原理
……
第六章 穆斯堡爾效應(yīng)
第七章 色譜的應(yīng)用
附錄1 粉末法衍射線積分強(qiáng)度公式推導(dǎo)
附錄2 元素的物理性質(zhì)
附錄3 K系標(biāo)識(shí)譜線的波長、吸收限和激發(fā)電壓
附錄4 元素的質(zhì)量衰減系數(shù)
附錄5 原子散射因子